Seminar über die Entwicklung von Testprogrammen für Tester

Vor kurzem hielt eine hundertprozentige Tochtergesellschaft von Hongce Precision Technology, Shanghai Hongcexin Semiconductor Co., Ltd., ein einzigartiges Testprogramm-Entwicklungsseminar im elektrischen Hafen Shanghai Zhangjiang ab. Das Seminar konzentrierte sich auf das weltweit fortschrittlichste Testmaschinenprogramm. Zu den Gästen zählten bekannte inländische Waferfabriken, Verpackungs- und Testfabriken sowie Chip-Design-Unternehmen.

In 2024HalbleiterDie Industrie wird innovativere Bedürfnisse wie das Internet der Dinge, künstliche Intelligenz, fortschrittliche Verpackungen, Fertigungstechnologieoptimierung, Automobilchips, 5G-Netzwerke usw. einführen. Halbleitertests können die Halbleiterproduktion bringen: Verbesserung der Produktionseffizienz, Gewährleistung der Produktqualität, Senkung der Kosten, Überprüfung der Schaltungsfunktionen, Gewährleistung der Funktionalität, Zuverlässigkeit und Qualität, Überwachung der Produktausbeute und -kosten und Erfüllung der Marktnachfrage. Selbst in der Chip-Entwicklungs- und Konstruktionsphase müssen genaue Tests verwendet werden, um den Chip-Entwicklungsplan zu verkürzen.

Branchenexperten erläutern Mess- und Prozessfragen

Wie kann ich die Messung und den Prozess von Halbleitern optimieren?

Was sind die Probleme bei der Halbleitermessung und -verarbeitung?

Sprecher: Chen Minfeng

Huanbang Technology Co., Ltd. Von März 2003 bis Januar 2019, Director und Executive Vice President, ADC Application Engineer, Director of Product Testing Department, Manager of Test R& D-Abteilung, mehr als 20-jährige Erfahrung in der Halbleiter-professionellen Testprogramm-Entwicklung und Testbetriebsmanagement.

Dienstleistungen in der Entwicklung von Prüfvorrichtungen und Prüfprogrammen;

Führen Sie das Unternehmensteam, um strategisch in den Überseemarkt einzutreten, und geben Sie dem Kunden technische und Produktionsprozess Anweisungen; Erhalten Sie inländische und ausländische Marktgeschäfte und führen Sie erfolgreich die Produktion ein.

INHALTSTEILUNG

Teilen aus dem Seminar zur Entwicklung von Prüfmaschinen-Prüfprogrammen

Herr Chen Minfeng verfügt über mehr als 20-jährige Erfahrung in der Konstruktion und Prüfung von Testgeräten. Der Hauptzweck dieses Seminars ist es, inländische DESIGN HOUSE Ingenieure bei der Einführung von ATE (Automatic Test Equipment) zu unterstützen. In der anfänglichen IC-Designperiode sollten sie sich nicht nur auf die Verbesserung der Produktleistung konzentrieren, sondern auch den Ertrag und die Kosten für zukünftige Verpackungen und Tests berücksichtigen und passendere Geräte und Testschnittstellen auswählen. Die anfängliche Testentwurfsmethode ist falsch oder die Testplattform falsch. Im Zusammenhang stehen folgende Fälle:

1. Verschwendung von Testressourcen: Wenn die Zuweisung von ATE-Testboardressourcen nicht vollständig bewertet und optimiert wird, kann dies zu Ressourcenverschwendung führen. Speziell für High-End-Tester (z.B.: Advantest 93K) ist jede Kanalpinkarte extrem teuer. Zum Beispiel: Ist ein 256-poliges Produkt als 384-polige Testplattform konzipiert, werden einerseits Boardressourcen verschwendet, andererseits kann die Auswahl an 384-poligen Maschinen mit Konfiguration geringer werden.

2. Erhöhte Testkosten: Wie oben beschrieben, wenn das Testprogramm die Ressourcen der Platine nicht vollständig nutzt, können mehr Testboards erforderlich sein, um die Testaufgaben zu erfüllen, wodurch die Kosten für die Prüfung erhöht werden. Die Kosten für allgemeine Tests (Cost Of Test) werden basierend auf der Konfiguration der Maschine und ihren Anschaffungskosten berechnet, um den Stundensatz zu schätzen. Es kann die späteren Betriebskosten in der frühen Phase des Entwurfs und der Entwicklung berücksichtigen, die die Wettbewerbsfähigkeit des Unternehmens erheblich verbessern können.

3. Niedrige Testeffizienz: Wenn das Testprogramm die Hochgeschwindigkeitsdatenübertragungsfähigkeit der Platine nicht vollständig nutzt, kann es die Testzeit erhöhen und dadurch die Testeffizienz beeinflussen.

4. Unzureichende Testzuverlässigkeit und -abdeckung: Manchmal aufgrund der Testinstabilität können Sie entscheiden, mehrfach zu testen (Wiederholungsschleife), um Teststabilität zu erreichen oder die Testfrequenz zu reduzieren. Dies kann zu unzureichender Testabdeckung und unzuverlässigen Testergebnissen führen.

Zusammenfassend ist eine sorgfältige Machbarkeitsbewertung und Optimierung der Prüfverfahren vor der Entwicklung von ATE-Prüfungen entscheidend, um die Effizienz, Genauigkeit und Zuverlässigkeit des Prüfprozesses sicherzustellen. Durch die rationale Nutzung der Boardressourcen können neben der Verbesserung der Testeffizienz auch die Testkosten gesenkt werden. Im Kurs führte Herr Chen Minfeng viele praktische Fälle auf. In der Vergangenheit konnten viele Unternehmen die endgültige FT-Ausbeute der Chipproduktion nicht verbessern oder sie konnten Halbzeuge CP und Fertigprodukt FT aufgrund von Konstruktionsfehlern nicht testen. Darüber hinaus führte die Auswahl der Testplattform-Schnittstelle zu einem deutlichen Anstieg der nachfolgenden Verpackungs- und Testkosten, was enorme Herausforderungen und Auswirkungen auf das Upgrade des Unternehmens mit sich brachte. Daher zeigte es erneut, wie wichtig es ist, bereits in den frühen Phasen des Produktdesigns und der Entwicklung ein gutes Know-how zu haben.

CP-Prüfverfahren

FT-Prüfverfahren

Gleichzeitig ist der Kern dieser Veranstaltung auch das, was die eingeladenen Gäste am meisten interessieren. Die entsprechenden Lösungen, die für einzelne Fälle vorgeschlagen werden, können Kunden helfen, die Ausbeute von CP- und FT-Tests zu niedrigsten Kosten mit vorhandenen Maschinen und Anlagen signifikant zu verbessern und den gleichen Ersatz von inländischen reifen Lösungen zu erreichen.



Wie kann ich die Messung und den Prozess von Halbleitern optimieren?

Ⅰ. Angesichts der Probleme in der Halbleitermessung und -verarbeitung sind folgende Faktoren zu berücksichtigen: Unterschiedliche Halbleiterprodukte benötigen unterschiedliche Mess- und Prozesstechnologien, um unterschiedliche Produktionsanforderungen zu erfüllen.

Ⅱ. Die Halbleitermessung sollte so früh wie möglich in die Entwicklung von Halbleiterchips einbezogen werden, und einige Schlüsselfaktoren der Messung und des Prozesses sollten zu Beginn des Halbleiterchipdesigns berücksichtigt werden.

Ⅲ. Die Optimierung von Halbleitermessungen und -prozessen ist ein unverzichtbarer Bestandteil der Entwicklung der Halbleiterindustrie. Nur durch kontinuierliche technologische Verbesserungen und Innovationen können wir qualitativ hochwertigere Halbleiterprodukte herstellen und die Entwicklung der Halbleiterindustrie fördern.

【ENDE】

Die Halbleiterindustrie legt Wert auf gute Ursprünge. Herr Zheng Renxi, der Gründer von Hongce Precision, beschäftigt sich seit 30-Jahren mit der Halbleiterchipprüfung und der Sondenkartenindustrie. Während der Epidemie kehrte er entschlossen auf das Festland zurück, um Hongce Precision zu etablieren, weil er optimistisch über die Entwicklung der heimischen Industrie war. Jetzt hat er viele Veteranen auf dem Testfeld von Taiwan, China, geführt, um einen kompletten One-Stop-Service von Testverfahren, Sondenkarten bis hin zu schlüsselfertigen Lösungen anzubieten, die in China landen, um zum Fortschritt der chinesischen Halbleiterindustrie beizutragen. Wir begrüßen auch Führungskräfte aus allen Bereichen des Lebens, um mit uns weitere Möglichkeiten zu erkunden.